ACF導電粒測量顯微鏡

產品簡介
ACF導電粒測量顯微鏡系列是一種集軟件、光、機、電一體的高精度、高效率的顯微測量儀器；系列是觀察、測量和處理系統(tǒng)化的顯微鏡陣容;DTN-2010S測量顯微鏡可以作為觀察顯微鏡，用相對量測法檢查工件表面粗糙度等非接觸測量為目的的各種精密加工業(yè)，是計量室、實驗室以及生產車間*的計量檢測設備之一。

產品型號：DTN-2010S

廠商性質：生產廠家

訪問量：1902

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

實驗檢測儀器

表面3D輪廓儀三維光學形貌儀材料試驗機光學軸類測量儀超景深三維顯微鏡粗糙度測量儀共面性測試儀接觸角測定儀一鍵式快速測量儀精密測量投影儀 CNC全自動影像儀 3D三坐標測量機快速尺寸測量儀測量金相顯微鏡刀具投影測量儀金相光學顯微鏡磨刀機顯微鏡測量分析顯微鏡視頻測量顯微鏡金屬材料顯微鏡高倍金相顯微鏡光學輪廓顯微鏡水滴角界面測量儀界面張力測量儀超低界面張力儀平面度測試儀臥式影像測量儀精密影像測量儀

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1.產品簡介：

ACF導電粒測量顯微鏡系列是一種集軟件、光、機、電一體的高精度、高效率的顯微測量儀器；系列是觀察、測量和處理系統(tǒng)化的顯微鏡陣容;DTN-2010S測量顯微鏡可以作為觀察顯微鏡，用相對量測法檢查工件表面粗糙度等非接觸測量為目的的各種精密加工業(yè)，是計量室、實驗室以及生產車間*的計量檢測設備之一。

2.產品特點

● 視場寬闊，可得清晰無閃爍影像

● 高精度測量，同時具有大測量范圍和高精度，適用于各種測量

● 選用長距明場金相物鏡，滿足長工作距離的測量要求

● 照明裝置（反射/透射）可選用高亮度LED的照明或鹵素照明

● 利用可變孔徑光闌進行無衍射觀察測量

● 各類尺寸的標準工作臺

● 快速釋放裝置便于測量工件大或測量工件數(shù)量多的快速移動工作臺

● 高位目鏡觀察

● 千兆網口CCD圖像成像

3.ACF導電粒測量顯微鏡技術參數(shù)

3.1主體規(guī)格

◆X坐標行程: 200（mm）

◆Y坐標行程： 100（mm）

◆Z坐標行程: 150（mm）
◆X、Y坐標測量示值誤差≤（3+L/150）µm ，L為被測長度(單位：mm)
◆X、Y、Z數(shù)顯分辨率：0.001mm
◆透射照明光源：24V/20W鹵素鎢燈

◆反射照明光源：可變視場光闌與孔徑光闌，均可調中心，帶濾色片插槽與偏光裝置插槽；

3.2目視系統(tǒng)

◆物鏡放大倍數(shù)：五孔旋轉器，標配5X、10X、20X、50X無限遠長工作距離明場金相物鏡

◆目鏡放大倍數(shù)：10X( 單、雙目同)

◆總放大倍數(shù)： 50X-500X（包括畸變在內的）
◆物鏡放大倍數(shù)誤差：放大率誤差≤0.08%

3.3影像系統(tǒng)
◆標配CCD相機0.5X鏡筒

◆CCD：300萬千兆網口高清晰CCD攝像頭

◆綜合影像大放大倍數(shù)：500X以上

4.軟件功能

配備視覺影像測量軟件，帶十字線捕捉閃爍功能，可測量二維平面尺寸（角度、直徑、半徑、點到點的距離、點到線的距離、線到線距離、線到圓的距離、圓到圓的距離等等）；
圖形捕捉：開啟自動捕捉功能后，測量點、線、圓及圓弧，可自動捕捉到清晰的地方；
視覺拍照功能：可通過軟件抓拍實時產品圖片，然后保存到電腦里，并可通過軟件調出圖片進行查看或處理；
標注文字：可在實時影像中標注文字說明；
公英制轉換：測量值可在公制和英制之間切換；
X、Y清零：可用畫面十字線設置任意點為相對原點，將X、Y坐標清零；
測量數(shù)據輸出：可將測量數(shù)據或圖形導入WORD或EXCEL做報表；
“瀏覽”窗口：可觀察工件的全圖形并具有類似AutoCAD的縮放功能；
輔助功能：可把在軟件中繪制出的圖形進行移動、旋轉、復制、刪除，并可作任意線段的平行線、垂直線；
兩點線：在單一畫面下可自動捕捉工件的邊緣，無須以人工取線，減少人眼誤差，提高測量精度；
三點圓：在單一畫面下可自動捕捉工件的圓半徑、直徑，并繪出圖形，無須以人工取圓，減少人眼誤差，提高測量精度；
多點線：自動捕捉工件邊緣，然后根據工件邊緣擬合出圖形，從而減少兩點取線及人眼的誤差；
多點圓：自動捕捉工件邊緣，然后擬合出工件的孔徑，并繪出圖形，從而減少三點取圓及人眼的誤差；
自動圓：在單一畫面下用鼠標框中圖形，可快速捕捉出圓.；
設定工件坐標：可以根據客戶本身的需要在影像中的實際工件上自行設定工件坐標，有兩點確定X軸、兩點確定Y軸或三點確定坐標系等多種設定方法；
具有坐標平移、坐標旋轉及坐標分中等功能：
坐標標注：可標注工件中任意點的坐標值；
Pitch標注：可標注任意點到一條直線的垂直距離，可標注任意兩線的垂直距離；